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產(chǎn)品展示-
- SRM 1993 - Zeta電位-膠體二氧化硅
NIST SRM 1993 - Zeta 電位 - 膠體二氧化硅（標(biāo)稱質(zhì)量分?jǐn)?shù) 2.2 %） 旨在評(píng)估用于測(cè)量 zeta 電位和電泳遷移率的儀器和/或方法的性能。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：2 x 25 mL
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- SRM 2031c - 熔石英中性密度濾光片(250 nm至635 nm)
NIST SRM 2031c 熔融石英上中性密度濾光片（標(biāo)準(zhǔn)品）旨在用于驗(yàn)證分光光度計(jì)在紫外和可見光譜區(qū)域的透射率和吸光度標(biāo)度。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set (3)
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- SRM 2034 - 氧化鈥溶液波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)(240 nm至650 nm)
NIST SRM 2034氧化鈥溶液波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)品)是一種經(jīng)過認(rèn)證的轉(zhuǎn)移標(biāo)準(zhǔn)，用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)標(biāo)稱光譜帶寬不超過 3 nm 的紫外和可見吸收分光光度計(jì)的波長(zhǎng)范圍。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：比色皿
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- SRM 2035b - 紫外可見光近紅外波長(zhǎng)/波數(shù)傳輸標(biāo)準(zhǔn)
NIST SRM 2035b 紫外可見光近紅外波長(zhǎng)（標(biāo)準(zhǔn)品） 是一種經(jīng)過認(rèn)證的轉(zhuǎn)移標(biāo)準(zhǔn)，用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)在透射模式下運(yùn)行的紫外可見 (UV-Vis) 和近紅外 (NIR) 光譜儀的波數(shù)/波長(zhǎng)范圍。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：each
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- SRM 2036 - 近紅外波長(zhǎng)/波數(shù)反射標(biāo)準(zhǔn)
NIST SRM 2061顯微分析用TiAl(NBW)合金（標(biāo)準(zhǔn)品）用于對(duì)航空部件和具有類似基質(zhì)的材料中的鈦 (Ti) 和鋁 (Al) 進(jìn)行微量分析。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：each
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- SRM 2061 - 顯微分析用鈦鋁(NBW)合金
NIST SRM 2061顯微分析用TiAl(NBW)合金（標(biāo)準(zhǔn)品）用于對(duì)航空部件和具有類似基質(zhì)的材料中的鈦 (Ti) 和鋁 (Al) 進(jìn)行微量分析。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：cube
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- SRM 2066 - K-411玻璃微球
SRM 2066 - K-411玻璃微球 標(biāo)準(zhǔn)品 旨在用作顆粒定量微量分析和開發(fā)顆粒基質(zhì)校正程序的標(biāo)準(zhǔn)
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：50 mg
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- SRM 2074 - 正弦粗糙度試樣
SRM 2074 - 正弦粗糙度試樣 標(biāo)準(zhǔn)品是一種正弦輪廓粗糙度樣品，經(jīng)過平均粗糙度 Ra 和表面空間波長(zhǎng) D 認(rèn)證。
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：each
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- SRM 2092 - 低能Charpy V-缺口標(biāo)本(NIST-驗(yàn)證，8毫米射手)
NIST SRM 2092 低能Charpy V-缺口標(biāo)本(標(biāo)準(zhǔn)品)提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2
- 品牌：美國NIST
- 規(guī)格：set
試劑標(biāo)準(zhǔn)品
